用途:
該設(shè)備主要是測(cè)試產(chǎn)品在高溫、低溫快速變化的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時(shí)的性能試驗(yàn)，主要用于對(duì)電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件、金屬材料及其在模擬溫度快速變化或漸變的氣候條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)及應(yīng)力篩選試驗(yàn)，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測(cè)試:
1.在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷，評(píng)價(jià)產(chǎn)品可靠性達(dá)到預(yù)定指標(biāo)的情況;
2.生產(chǎn)階段為監(jiān)控生產(chǎn)過程提供信息:
3.對(duì)定型產(chǎn)品進(jìn)行可靠性鑒定或驗(yàn)收:
4.暴露和分析產(chǎn)品在不同環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及有關(guān)的失效模式和失效機(jī)理;
5.為改進(jìn)產(chǎn)品可靠性，制定和改進(jìn)可靠性試驗(yàn)方案，為用戶選用產(chǎn)品提供依據(jù)。

用途:
該設(shè)備主要是測(cè)試產(chǎn)品在高溫、低溫快速變化的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時(shí)的性能試驗(yàn)，主要用于對(duì)電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件、金屬材料及其在模擬溫度快速變化或漸變的氣候條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)及應(yīng)力篩選試驗(yàn)，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測(cè)試:
1.在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷，評(píng)價(jià)產(chǎn)品可靠性達(dá)到預(yù)定指標(biāo)的情況;
2.生產(chǎn)階段為監(jiān)控生產(chǎn)過程提供信息:
3.對(duì)定型產(chǎn)品進(jìn)行可靠性鑒定或驗(yàn)收:
4.暴露和分析產(chǎn)品在不同環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及有關(guān)的失效模式和失效機(jī)理;
5.為改進(jìn)產(chǎn)品可靠性，制定和改進(jìn)可靠性試驗(yàn)方案，為用戶選用產(chǎn)品提供依據(jù)。

設(shè)備為了達(dá)到這種平衡壓力的目的，采用了旁通的調(diào)節(jié)方式:

平衡調(diào)溫調(diào)濕控制系統(tǒng)( BTHC)，以P.I.D. 方式控制SSR，使系統(tǒng)之加熱加濕量等于熱濕損耗量，故能長期穩(wěn)定。
膨脹閥會(huì)在停機(jī)時(shí)關(guān)閉制冷劑通道，為了平衡壓力，在前級(jí)壓縮機(jī)的油分離器后的主制冷劑通道上設(shè)計(jì)了一個(gè)孔口，當(dāng)停機(jī)后電磁閥e打開(正常工作時(shí)處于關(guān)閉狀態(tài))，高壓制冷劑通過hotgpasbypass降壓節(jié)流后回到壓縮機(jī)的前級(jí)(低壓側(cè));后級(jí)壓縮機(jī)則通過使用毛細(xì)管來達(dá)到旁通的目的，使壓縮機(jī)的高壓側(cè)和低壓側(cè)壓力相等(平衡);這一過程需要一定的時(shí)間，也是要求不能頻繁開關(guān)設(shè)備的原因之一。

工作過程:當(dāng)設(shè)備運(yùn)轉(zhuǎn)，要求系統(tǒng)降溫時(shí)，壓縮機(jī)A先開始工作，高溫高壓的氣態(tài)制
冷劑(R404A)通過油分離器進(jìn)入到冷凝器a;冷凝器a采用的水冷方式冷凝，裝有制冷
劑的管道鑲嵌在裝有冷卻水的管道中，通過循環(huán)冷卻水來達(dá)到冷卻制冷劑的作用。高溫高
壓的制冷劑通過冷凝器a將變成高壓液體，高壓液態(tài)的制冷劑將通過熱力膨脹閥減壓后進(jìn)
入蒸發(fā)器A/B進(jìn)行蒸發(fā)，從而達(dá)到降低冷凝器B中制冷劑溫度的目的。

 制冷機(jī)采用法國原裝“泰康”全封閉壓縮機(jī)，冷凍系統(tǒng)采用-元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)。采用 多翼式送風(fēng)
機(jī)強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán)，避免任何死角，可使測(cè)試區(qū)域內(nèi)溫度分布均勻。
風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計(jì)，風(fēng)壓、風(fēng)速均符合測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，并可使開門瞬間溫度回穩(wěn)時(shí)間快。
升溫、降溫、系統(tǒng)*獨(dú)立可提高效率，降低測(cè)試成本，增長壽命，減低故障率